Question

C·S史密斯在1954年對硅和鍺的電阻率與應(yīng)力變化特性測試中發(fā)現(xiàn)，當(dāng)受到應(yīng)力作用時電阻率發(fā)生變化．這種由于外力的作用而使材料電阻率發(fā)生變化的現(xiàn)象稱為“壓阻效應(yīng)”．壓阻效應(yīng)被用來制成各種壓力、應(yīng)力、應(yīng)變、速度、加速度傳感器，把力學(xué)量轉(zhuǎn)換成電信號，半導(dǎo)體壓阻傳感器已經(jīng)廣泛地應(yīng)用于航空、化工、航海、動力和醫(yī)療等部門．某興趣小組在研究某長薄板電阻Rx的壓阻效應(yīng)時，找到了下列器材（已知Rx的阻值變化范圍大約為幾歐到幾十歐）：

A．電源E（3V，內(nèi)阻約為1）

B．電流表A1（0.6A，內(nèi)阻）

C．電流表A2（0.6A，內(nèi)阻r2約為1）

D．開關(guān)S，定值電阻R0

（1）為了比較準(zhǔn)確地測量電阻Rx的阻值，請根據(jù)所給器材畫出合理的實(shí)物連接圖（部分導(dǎo)線已畫出，電表A1、A2已標(biāo)出）；

（2）在電阻Rx上加一個豎直向下的力F時，閉合開關(guān)S，A1的示數(shù)為I1，A2的示數(shù)為I2，則Rx=______（用字母表示）；

（3）Rx與壓力F的關(guān)系如圖l所示，某次測量時電表A1、A2的示數(shù)分別如圖2、圖3所示，則這時加在薄板電阻Rx上的壓力為_______N．

Answer 1