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如圖所示，平行金屬板A、B水平正對(duì)放置，分別帶等量異號(hào)電荷。一帶點(diǎn)微粒水平射入板間，在重力和電場(chǎng)力共同作用下運(yùn)動(dòng)，軌跡如圖中虛線所示，那么

A.若微粒帶正電荷，則A板一定帶正電荷

B.微粒從M點(diǎn)運(yùn)動(dòng)到N點(diǎn)電勢(shì)能一定增加

C.微粒從M點(diǎn)運(yùn)動(dòng)到N點(diǎn)動(dòng)能一定增加

D.微粒從M點(diǎn)運(yùn)動(dòng)到N點(diǎn)機(jī)械能一定增加

【解析】

試題分析：微粒在極板間受到豎直向下的重力作用與電場(chǎng)力作用，由圖示微粒運(yùn)動(dòng)軌跡可知，微粒向下運(yùn)動(dòng)，說(shuō)明微粒受到的合力豎直向下，重力與電場(chǎng)力的合力豎直向下；如果微粒帶正電，A板帶正電荷，微粒受到的合力向下，微粒運(yùn)動(dòng)軌跡向下，A板帶負(fù)電，但如果電場(chǎng)力小于重力，微粒受到的合力向下，微粒運(yùn)動(dòng)軌跡向下，則A板既可以帶正電，也可能帶負(fù)電，故A錯(cuò)誤；如果微粒受到的電場(chǎng)力向下，微粒從M點(diǎn)運(yùn)動(dòng)到N點(diǎn)過(guò)程中電場(chǎng)力做正功，微粒電勢(shì)能減小，如果微粒受到的電場(chǎng)力向上，則電勢(shì)能增加，故B錯(cuò)誤；微粒受到的合力向下，微粒從M點(diǎn)運(yùn)動(dòng)到N點(diǎn)過(guò)程中合外力做正功，微粒的動(dòng)能增加，故C正確；微粒從M點(diǎn)運(yùn)動(dòng)到N點(diǎn)過(guò)程動(dòng)能增加，重力勢(shì)能減小，機(jī)械能不一定增加，故D錯(cuò)誤．故選：C．

考點(diǎn)：

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邊長(zhǎng)為a的閉合金屬正三角形框架，左邊豎直且與磁場(chǎng)右邊界平行，完全處于垂直框架平面向里的勻強(qiáng)磁場(chǎng)中．現(xiàn)把框架勻速水平向右拉出磁場(chǎng)，如圖所示，則下列圖像與這一過(guò)程相符合的是（）

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（16分）如圖所示，豎直平面坐標(biāo)系xOy的第一象限，有垂直xOy面向外的水平勻強(qiáng)磁場(chǎng)和豎直向上的勻強(qiáng)電場(chǎng)，大小分別為B和E；第四象限有垂直xOy面向里的水平勻強(qiáng)電場(chǎng)，大小也為E；第三象限內(nèi)有一絕緣光滑豎直放置的半徑為R的半圓軌道，軌道最高點(diǎn)與坐標(biāo)原點(diǎn)O相切，最低點(diǎn)與絕緣光滑水平面相切于N。一質(zhì)量為m的帶電小球從y軸上(y>0)的P點(diǎn)沿x軸正方向進(jìn)入第一象限后做圓周運(yùn)動(dòng)，恰好通過(guò)坐標(biāo)原點(diǎn)O，且水平切入半圓軌道并沿軌道內(nèi)側(cè)運(yùn)動(dòng)，過(guò)N點(diǎn)水平進(jìn)入第四象限，并在電場(chǎng)中運(yùn)動(dòng)(已知重力加速度為g)。

（1）判斷小球的帶電性質(zhì)并求出其所帶電荷量；

（2）P點(diǎn)距坐標(biāo)原點(diǎn)O至少多高；

（3）若該小球以滿足(2)中OP最小值的位置和對(duì)應(yīng)速度進(jìn)入第一象限，通過(guò)N點(diǎn)開始計(jì)時(shí)，經(jīng)時(shí)間小球距坐標(biāo)原點(diǎn)O的距離s為多大？

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(1)電場(chǎng)強(qiáng)度E的大小和帶電粒子經(jīng)過(guò)P點(diǎn)時(shí)速度v的大小和方向；

(2)磁場(chǎng)的磁感應(yīng)強(qiáng)度B的大小和方向．

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A.糧袋到達(dá)B點(diǎn)的速度與v比較，可能大，也可能相等或小

B.糧袋開始運(yùn)動(dòng)的加速度為g（sinθ-μcosθ），若L足夠大，則以后將一定以速度v做勻速運(yùn)動(dòng)

C.若μ<tanθ，則糧袋從A到B一定一直是做加速運(yùn)動(dòng)

D.不論μ小如何，糧袋從A到B一直勻加速運(yùn)動(dòng)，且a＞gsinθ

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（1）若P、Q間外加一與磁場(chǎng)方向垂直的勻強(qiáng)電場(chǎng)，能使速度為v0射出的微粒沿PQ直線運(yùn)動(dòng)到Q點(diǎn)，則場(chǎng)強(qiáng)為多大？

（2）撤去電場(chǎng)，為使微粒從P點(diǎn)射出后，途經(jīng)折線的頂點(diǎn)A而到達(dá)Q點(diǎn)，求初速度v應(yīng)滿足什么條件？

（3）求第（2）中微粒從P點(diǎn)到達(dá)Q點(diǎn)所用時(shí)間的最小值．

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圖為某磁譜儀部分構(gòu)件的示意圖．圖中，永磁鐵提供勻強(qiáng)磁場(chǎng)，硅微條徑跡探測(cè)器可以探測(cè)粒子在其中運(yùn)動(dòng)的軌跡．宇宙射線中有大量的電子、正電子和質(zhì)子．當(dāng)這些粒子從上部垂直進(jìn)入磁場(chǎng)時(shí)，下列說(shuō)法正確的是